Фотошаблон - скляна або інша пластина або полімерна плівка зі сформованим на її поверхні малюнком елементів схем з матеріалу, що не пропускає актинічного випромінювання.
Фотошаблон є одним з основних інструментів при створенні заданого рельєфного захисного покриття при проведенні фотолітографії в планарної технології. Залежно від матеріалу плівкового покриття розрізняють фотошаблони на основі:
- Фотографічної емульсії (емульсійні фотошаблони)
- Металевої плівки (металеві фотошаблони)
- Окису заліза (кольорові фотошаблони)
Типи фотошаблонів
Негативний фотошаблон (темнопольний) - фотошаблон, на якому зображення елементів схеми представлено у вигляді світлих ділянок на непрозорому фоні.
Позитивний фотошаблон (світлопольний) - фотошаблон, на якому зображення елементів схеми представлено у вигляді непрозорих для актинічного випромінювання ділянок на світлому прозорому тлі.
Металізований фотошаблон - фотошаблон, на якому зображення елементів схеми сформовано тонкою металевою плівкою.
Транспарентний (кольоровий) фотошаблон - фотошаблон, на якому зображення елементів схем сформовано покриттям, що не пропускає актинічного випромінювання і пропускає неактинічне (видима область спектра) для фоторезиста випромінювання.
Емульсивний фотошаблон - фотошаблон, на якому зображення елементів схеми утворено галоїдо-срібною фотографічної емульсією.
Ринок виробництва фотошаблонів
На щорічній конференції SPIE, компанія надала дослідження світового ринку виробництва фотошаблонів для мікроелектроніки. Станом на 2009 рік найбільшими виробниками були:
- Photomasks
- Hoya Corporation
Більшість найбільших виробників мікроелектроніки, такі як Intel, , IBM, NEC, TSMC, Samsung і Micron Technology, мали або власні потужності з виробництва шаблонів, або створювали між собою спільні підприємства для цих цілей.
Вартість створення виробництва фотошаблонів (так званого [en]) для техпроцесу 45 нм оцінюється в 200-500 млн доларів США, що створює істотні перешкоди для виходу на цей ринок.
Вартість одного фотошаблона для замовника складає від 1 до 10 тисяч доларів (оцінки від 2007 року) або до 200 тисяч (оцінка SEMATECH від 2011 року) , залежно від вимог. Найбільш дорогими є для самих тонких техпроцессов. Для виробництва мікросхеми на старому техпроцесі потрібно набір з порядку 20-30 масок різної вартості або більше . Для найбільш сучасних техпроцесів, наприклад 22 нм, потрібно більш 50 масок.
Тривалість виготовлення та перевірки однієї маски складає в середньому від 5-7 до 23 днів залежно від використаних технологій.
Одна маска з досліджень , використовується для виготовлення приблизно від 0,5 тис. до 5 тис. напівпровідникових пластин (wafers).
Примітки
- Hughes, Greg; Henry Yun (1 жовтня 2009). Mask industry assessment: 2009. Proceedings of SPIE. 7488 (1): 748803-748803-13. doi:10.1117 / 12.832722. ISSN 0277-786X.
{{}}
: Перевірте значення|doi=
() - people.rit.edu/lffeee/LEC_MASK.pdf - Introduction to Maskmaking Dr. Lynn Fuller//Rochester Institute of Technology, Microelectronic Engineering - 2007
- Principles of Lithography [ 18 квітня 2015 у Wayback Machine.], Third Edition, SPIE Press, 2011 page 366 11.1.3 Mask costs: «AMD ... average reticle was used to expose only 1800-2400 wafers. ... For makers of application-specific integrated circuits (ASICs), the mask usage can be low; 500 wafers per reticle is considered typcial .. For manufacturers of DRAMs or mainstream microprocessors, usage can easily be greater than 5000 wafers per reticle. "
- SEMATECH's Photomask Industry Survey Validates Top Industry Challenges and Identifies Long-Term Opportunities [ 4 жовтня 2013 у Wayback Machine.], September 24, 2013: «The number of masks per mask set has seen a 14 percent long-term growth rate with the average number more than doubling from 23 at the 250 nm node to 54 at the 22 nm node.»
- Semiconductor Manufacturing Handbook [ 18 квітня 2015 у Wayback Machine.] (2005) SA8-PA5: «Delivery times average 5 days for a simple binary mask to 7 days for a binary mask with aggressive optical proximity correction (OPC) applied. Attenuated phase shift mask delivery times averaged 11 days. Alternating aperture phase shift masks (PSMs) average 23 days. "
Література
- Hwaiyu Geng, Semiconductor manufacturing handbook. , McGraw-Hill Handbooks 2005, doi: 10.1036 / 0071445595. Розділ 8 Photomask [ 18 квітня 2015 у Wayback Machine.] (Charles Howard, DuPont)
Вікіпедія, Українська, Україна, книга, книги, бібліотека, стаття, читати, завантажити, безкоштовно, безкоштовно завантажити, mp3, відео, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, малюнок, музика, пісня, фільм, книга, гра, ігри, мобільний, телефон, android, ios, apple, мобільний телефон, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, ПК, web, Інтернет
Fotoshablon sklyana abo insha plastina abo polimerna plivka zi sformovanim na yiyi poverhni malyunkom elementiv shem z materialu sho ne propuskaye aktinichnogo viprominyuvannya Priklad malyunka fotoshablona dlya mikroelektroniki Vidno dopomizhni strukturi dlya korekciyi difrakciyi tehnologiya en Fotoshablon ye odnim z osnovnih instrumentiv pri stvorenni zadanogo relyefnogo zahisnogo pokrittya pri provedenni fotolitografiyi v planarnoyi tehnologiyi Zalezhno vid materialu plivkovogo pokrittya rozriznyayut fotoshabloni na osnovi Fotografichnoyi emulsiyi emulsijni fotoshabloni Metalevoyi plivki metalevi fotoshabloni Okisu zaliza kolorovi fotoshabloni Tipi fotoshablonivNegativnij fotoshablon temnopolnij fotoshablon na yakomu zobrazhennya elementiv shemi predstavleno u viglyadi svitlih dilyanok na neprozoromu foni Pozitivnij fotoshablon svitlopolnij fotoshablon na yakomu zobrazhennya elementiv shemi predstavleno u viglyadi neprozorih dlya aktinichnogo viprominyuvannya dilyanok na svitlomu prozoromu tli Metalizovanij fotoshablon fotoshablon na yakomu zobrazhennya elementiv shemi sformovano tonkoyu metalevoyu plivkoyu Transparentnij kolorovij fotoshablon fotoshablon na yakomu zobrazhennya elementiv shem sformovano pokrittyam sho ne propuskaye aktinichnogo viprominyuvannya i propuskaye neaktinichne vidima oblast spektra dlya fotorezista viprominyuvannya Emulsivnij fotoshablon fotoshablon na yakomu zobrazhennya elementiv shemi utvoreno galoyido sribnoyu fotografichnoyi emulsiyeyu Rinok virobnictva fotoshablonivNa shorichnij konferenciyi SPIE kompaniya nadala doslidzhennya svitovogo rinku virobnictva fotoshabloniv dlya mikroelektroniki Stanom na 2009 rik najbilshimi virobnikami buli Photomasks Hoya Corporation Bilshist najbilshih virobnikiv mikroelektroniki taki yak Intel IBM NEC TSMC Samsung i Micron Technology mali abo vlasni potuzhnosti z virobnictva shabloniv abo stvoryuvali mizh soboyu spilni pidpriyemstva dlya cih cilej Vartist stvorennya virobnictva fotoshabloniv tak zvanogo en dlya tehprocesu 45 nm ocinyuyetsya v 200 500 mln dolariv SShA sho stvoryuye istotni pereshkodi dlya vihodu na cej rinok Vartist odnogo fotoshablona dlya zamovnika skladaye vid 1 do 10 tisyach dolariv ocinki vid 2007 roku abo do 200 tisyach ocinka SEMATECH vid 2011 roku zalezhno vid vimog Najbilsh dorogimi ye dlya samih tonkih tehprocessov Dlya virobnictva mikroshemi na staromu tehprocesi potribno nabir z poryadku 20 30 masok riznoyi vartosti abo bilshe Dlya najbilsh suchasnih tehprocesiv napriklad 22 nm potribno bilsh 50 masok Trivalist vigotovlennya ta perevirki odniyeyi maski skladaye v serednomu vid 5 7 do 23 dniv zalezhno vid vikoristanih tehnologij Odna maska z doslidzhen vikoristovuyetsya dlya vigotovlennya priblizno vid 0 5 tis do 5 tis napivprovidnikovih plastin wafers PrimitkiHughes Greg Henry Yun 1 zhovtnya 2009 Mask industry assessment 2009 Proceedings of SPIE 7488 1 748803 748803 13 doi 10 1117 12 832722 ISSN 0277 786X a href wiki D0 A8 D0 B0 D0 B1 D0 BB D0 BE D0 BD Cite journal title Shablon Cite journal cite journal a Perevirte znachennya doi dovidka people rit edu lffeee LEC MASK pdf Introduction to Maskmaking Dr Lynn Fuller Rochester Institute of Technology Microelectronic Engineering 2007 Principles of Lithography 18 kvitnya 2015 u Wayback Machine Third Edition SPIE Press 2011 ISBN 978 0819483249 page 366 11 1 3 Mask costs AMD average reticle was used to expose only 1800 2400 wafers For makers of application specific integrated circuits ASICs the mask usage can be low 500 wafers per reticle is considered typcial For manufacturers of DRAMs or mainstream microprocessors usage can easily be greater than 5000 wafers per reticle SEMATECH s Photomask Industry Survey Validates Top Industry Challenges and Identifies Long Term Opportunities 4 zhovtnya 2013 u Wayback Machine September 24 2013 The number of masks per mask set has seen a 14 percent long term growth rate with the average number more than doubling from 23 at the 250 nm node to 54 at the 22 nm node Semiconductor Manufacturing Handbook 18 kvitnya 2015 u Wayback Machine 2005 SA8 PA5 Delivery times average 5 days for a simple binary mask to 7 days for a binary mask with aggressive optical proximity correction OPC applied Attenuated phase shift mask delivery times averaged 11 days Alternating aperture phase shift masks PSMs average 23 days LiteraturaHwaiyu Geng Semiconductor manufacturing handbook ISBN 978 007146965 4 McGraw Hill Handbooks 2005 doi 10 1036 0071445595 Rozdil 8 Photomask 18 kvitnya 2015 u Wayback Machine Charles Howard DuPont