Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія англ X ray photoelectron spectroscopy метод визначення елементного складу тве

Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (англ. X-ray photoelectron spectroscopy) — метод визначення елементного складу твердої поверхні шляхом бомбардування її рентгенівським випроміненням і реєстрації кількості утворених фотоелектронів як функції енергії (або частоти випромінення). Широко використовується для ідентифікації елементів, їх концентрацій та їх хімічного стану як у самому зразку, так і на його поверхні. У твердофазній комбінаторній хімії застосовується шляхом включення міченого атома у (лінкер).

Література

Глосарій термінів з хімії / уклад. Й. Опейда, О. Швайка ; Ін-т фізико-органічної хімії та вуглехімії ім. Л. М. Литвиненка НАН України, Донецький національний університет. — Дон. : Вебер, 2008. — 738 с. — .

Це незавершена стаття з хімії.
Ви можете проєкту, виправивши або дописавши її.

Це незавершена стаття з фізики.
Ви можете проєкту, виправивши або дописавши її.