Магніто-люмінесцентна дефектоскопія — різновид магнітно-порошкового методу дефектоскопії.
Загальна характеристика
Особливість методу полягає в тому, що частинки магнітного порошку містять люмінофор, що світиться при випроміненні контрольованих виробів ультрафіолетовим світлом, завдяки чому дефекти виявляються більш чітко. Для зчеплення люмінофора з феромагнітними частками використовуються целюлози або легкоплавкі смоли. Магнітно-люмінесцентна дефектоскопія особливо ефективна при контролі виробів з темною поверхнею. Використання магнітно-люмінесцентної дефектоскопії у поєднанні з фотоелементами дає змогу автоматизувати процес контролю.
Див. також
Джерела
- Білокур І. П. Основи дефектоскопії: Підручник. — К.: «Азимут-Україна», 2004. — 496 с.
- Білокур І. П. Елементи дефектоскопії при вивченні неруйнівного контролю. — К.: НМК ВО, 1990. — 252 с.
- Современные методы контроля материалов без разрушения. Сб. ст. — М., 1961.(рос.)
Вікіпедія, Українська, Україна, книга, книги, бібліотека, стаття, читати, завантажити, безкоштовно, безкоштовно завантажити, mp3, відео, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, малюнок, музика, пісня, фільм, книга, гра, ігри, мобільний, телефон, android, ios, apple, мобільний телефон, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, ПК, web, Інтернет
Magnito lyuminescentna defektoskopiya riznovid magnitno poroshkovogo metodu defektoskopiyi Magnito lyuminescentna poroshkova defektoskopiya Testovij element v ultrafioletovomu svitli Rakurs Testovij element v ultrafioletovomu svitli Zagalna harakteristikaOsoblivist metodu polyagaye v tomu sho chastinki magnitnogo poroshku mistyat lyuminofor sho svititsya pri viprominenni kontrolovanih virobiv ultrafioletovim svitlom zavdyaki chomu defekti viyavlyayutsya bilsh chitko Dlya zcheplennya lyuminofora z feromagnitnimi chastkami vikoristovuyutsya celyulozi abo legkoplavki smoli Magnitno lyuminescentna defektoskopiya osoblivo efektivna pri kontroli virobiv z temnoyu poverhneyu Vikoristannya magnitno lyuminescentnoyi defektoskopiyi u poyednanni z fotoelementami daye zmogu avtomatizuvati proces kontrolyu Div takozhMagnitna defektoskopiya Defektoskopiya Nerujnivnij kontrolDzherelaBilokur I P Osnovi defektoskopiyi Pidruchnik K Azimut Ukrayina 2004 496 s Bilokur I P Elementi defektoskopiyi pri vivchenni nerujnivnogo kontrolyu K NMK VO 1990 252 s Sovremennye metody kontrolya materialov bez razrusheniya Sb st M 1961 ros