Даценко Леонід Іванович

Даценко Леонід Іванович (29. 01. 1933, с. Петрівці, нині смт Черкаської обл. — 18. 01. 2004, Київ) — радянський, український вчений-фізик у галузі фізики напівпровідників. Доктор фізико-математичних наук (1978), професор (1984). Двічі Лауреат Державної премії УРСР (1983) та України (1994) у галузі науки та техніки. Заслужений діяч науки та техніки України (2000).

Даценко Леонід Іванович
Народився	29 січня 1933(1933-01-29) Петрове, Дніпропетровська область, Українська СРР, СРСР^[1]
Помер	18 січня 2004(2004-01-18) (70 років) Київ, Україна
Країна	СРСР  Україна
Діяльність	фізик, викладач університету
Галузь	фізика
Alma mater	фізичний факультет Київського національного університету імені Тараса Шевченка (1957)
Науковий ступінь	доктор фізико-математичних наук^[1] (1978)
Вчене звання	професор^[1]
Заклад	Інститут фізики НАН України і Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова НАН України
Нагороди
X-Ray diffraction studies of growth defect in III—V single crystals. Datsenko L.I., Kladko V.P., Kryshtab T.G. // In.: «Defects in Crystals». Proc. of the 8th Inter. School on Defects in Crystals". 1988. Р.59-67. Особенности рассеяния рентгеновских лучей для сверхструктурных отражений вблизи К-краев поглощения компонентов бинарных соединений на примере кристалла InSb. Кладько В. П.,, Крыштаб Т. Г., Даценко Л. И.  // Кристаллография, 1989, Т.34, №.5. С.1083-1087. Resonant x-ray acoustic determination of the dominant type of the structure distortion in real crystals L.I. Datsenko, D.O. Grigor'ev, A.V. Briginets, V.F. Machulin, and V.I. Khrupa  // Crystallogr. Rep. 1994. 39, P.53 Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами. К., 1988 (соавт.); Microdefects and nonstoichiometry level in GaAs: Si/GaAs films grown by liquid phase epitaxy method // J. Alloys and Compound. 2001. Vol. 328; Calculation of two-dimensional maps of diffuse scattering by a real crystal with microdefects and comparison of results obtained from three-crystal diffractometry // J. Physics D. 2001. Vol. 34, № 10; Рентгенодифракционная диагностика структурной и композиционной однородности бинарных кристаллов // МНТ. 2002. Vol. 24, № 5; Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами в области аномальной дисперсии. К., 2002. Примітки різні автори Енциклопедія сучасної України — Інститут енциклопедичних досліджень НАН України, 2001. — d:Track:Q4201869d:Track:Q2818964d:Track:Q4532152 Про відзначення державними нагородами України працівників Інституту фізики напівпровідників НАН України, м. Київ. Офіційний вебпортал парламенту України (укр.). Процитовано 11 травня 2022. . x-ray.net.ua. Архів оригіналу за 31 травня 2022. Процитовано 11 травня 2022. Кладько, В.П. . isp.kiev.ua. Архів оригіналу за 17 квітня 2022. Процитовано 11 травня 2022. . x-ray.net.ua. Архів оригіналу за 11 травня 2022. Процитовано 11 травня 2022. Джерела ЕСУ [ 10 травня 2022 у Wayback Machine.] . irbis-nbuv.gov.ua. Архів оригіналу за 20 травня 2022. Процитовано 11 травня 2022.