Резерфордівське розсіяння назад — метод елементного аналізу приповерхневих шарів речовини на основі резерфордівського розсіяння швидких заряджених частинок, зазвичай альфа-частинок або протонів.
Фізичні засади
При зіткненні швидкої зарядженої частинки (іона) з ядром атома мішені, частинка втрачає енергію, передаючи її ядру. Втрати енергії залежать від кута розсіяння та від мас розсіяної частинки й ядра. Ці втрати описуються кінематичним фактором k:
де та — енергії частинки до і після розсіяння, відповідно, та — маси частинки, що налітає на ядро, та маса ядра, відповідно, — кут розсіяння в лабораторній системі відліку.
Тож, в енергетичному спектрі частинок, що розсіялися назад на фіксований кут (°), спостерігаються піки, які відповідають різним масам ядер мішені. Оскільки частинки втрачають енергію не тільки при пружному зіткненні з ядрами мішені, а й іонізацію на шляху до зіткнення і після нього, уширення піків містить інформацію про глибину залягання атома розсіювача в зразку.
Посилання на джерела
- Oura et al. (2003) p. 110
Джерела
- (1986). The Making of the Atomic Bomb. . ISBN .
- Oura, K.; Lifshits, V.G.; Saranin, A.A.; Zotov, A.V. та ін. (2003). Surface Science: An Introduction. Springer-Verlag. ISBN .
- Feldman, L.C.; Mayer, J.W.; Picraux, S.T. (1982). Materials Analysis by Ion Channeling. .
- Feldman, L.C.; Mayer, J.W. (1986). Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis. Prentice-Hall.
- . Evans Analytical Group: Training. Архів оригіналу за 9 жовтня 2007. Процитовано 10 жовтня 2007.
- . Evans Analytical Group: Training. Архів оригіналу за 9 жовтня 2007. Процитовано 10 жовтня 2007.
- Hobbs, C.P.; McMillan, J.W.; Palmer, D.W. (1988). The effects of surface topography in nuclear microprobe Rutherford backscattering analysis. . 30 (3): 342—348. Bibcode:1988NIMPB..30..342H. doi:10.1016/0168-583X(88)90023-7.
- Frenken, J.W.M.; Maree, P.M.J.; van der Veen, J.F. (1986). Observation of surface-initiated melting. Phys. Rev. B. 34 (11): 7506. Bibcode:1986PhRvB..34.7506F. doi:10.1103/PhysRevB.34.7506.
Вікіпедія, Українська, Україна, книга, книги, бібліотека, стаття, читати, завантажити, безкоштовно, безкоштовно завантажити, mp3, відео, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, малюнок, музика, пісня, фільм, книга, гра, ігри, мобільний, телефон, android, ios, apple, мобільний телефон, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, ПК, web, Інтернет
Rezerfordivske rozsiyannya nazad metod elementnogo analizu pripoverhnevih shariv rechovini na osnovi rezerfordivskogo rozsiyannya shvidkih zaryadzhenih chastinok zazvichaj alfa chastinok abo protoniv Fizichni zasadiPri zitknenni shvidkoyi zaryadzhenoyi chastinki iona z yadrom atoma misheni chastinka vtrachaye energiyu peredayuchi yiyi yadru Vtrati energiyi zalezhat vid kuta rozsiyannya ta vid mas rozsiyanoyi chastinki j yadra Ci vtrati opisuyutsya kinematichnim faktorom k E 1 k E 0 displaystyle E 1 k cdot E 0 dd k m 1 cos 8 1 m 2 2 m 1 2 sin 8 1 2 m 1 m 2 2 displaystyle k left frac m 1 cos theta 1 pm sqrt m 2 2 m 1 2 sin theta 1 2 m 1 m 2 right 2 dd de E 0 displaystyle E 0 ta E 1 displaystyle E 1 energiyi chastinki do i pislya rozsiyannya vidpovidno m 1 displaystyle m 1 ta m 2 displaystyle m 2 masi chastinki sho nalitaye na yadro ta masa yadra vidpovidno 8 1 displaystyle theta 1 kut rozsiyannya v laboratornij sistemi vidliku Tozh v energetichnomu spektri chastinok sho rozsiyalisya nazad na fiksovanij kut 8 1 gt 180 displaystyle theta 1 gt 180 sposterigayutsya piki yaki vidpovidayut riznim masam yader misheni Oskilki chastinki vtrachayut energiyu ne tilki pri pruzhnomu zitknenni z yadrami misheni a j ionizaciyu na shlyahu do zitknennya i pislya nogo ushirennya pikiv mistit informaciyu pro glibinu zalyagannya atoma rozsiyuvacha v zrazku Posilannya na dzherelaOura et al 2003 p 110Dzherela 1986 The Making of the Atomic Bomb Simon amp Schuster ISBN 978 0 684 81378 3 Oura K Lifshits V G Saranin A A Zotov A V ta in 2003 Surface Science An Introduction Springer Verlag ISBN 3 540 00545 5 Feldman L C Mayer J W Picraux S T 1982 Materials Analysis by Ion Channeling Feldman L C Mayer J W 1986 Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis Prentice Hall Evans Analytical Group Training Arhiv originalu za 9 zhovtnya 2007 Procitovano 10 zhovtnya 2007 Evans Analytical Group Training Arhiv originalu za 9 zhovtnya 2007 Procitovano 10 zhovtnya 2007 Hobbs C P McMillan J W Palmer D W 1988 The effects of surface topography in nuclear microprobe Rutherford backscattering analysis 30 3 342 348 Bibcode 1988NIMPB 30 342H doi 10 1016 0168 583X 88 90023 7 Frenken J W M Maree P M J van der Veen J F 1986 Observation of surface initiated melting Phys Rev B 34 11 7506 Bibcode 1986PhRvB 34 7506F doi 10 1103 PhysRevB 34 7506